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专业用于PCB电镀层分析的X射线荧光镀层厚度测试仪iEDX-150WT

产品品牌韩国ISP
区位信息广东 - 广州
最后更新2019-10-30 16:26:28
浏览次数6次每周更新

产品详情

专业用于PCB电镀层分析的X射线荧光镀层厚度测试仪iEDX-150WT - 专业用于PCB电镀层分析的X射线荧光镀层厚度测试仪iEDX-150WT - 专业用于PCB电镀层分析的X射线荧光镀层厚度测试仪iEDX-150WT
产品优势及特征
(一)产品优势
1.镀层检测,最多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。
2.平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达110*110*5mm。(固定台可选)
3.激光定位和自动多点测量功能。
4.可检测固体、粉末状态材料。
5.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
6.可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
7.操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。
8.可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
9.软件终身免费升级。
10.无损检测,一次性购买标样可永久使用。
11.使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务。
12.可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。
13.可进行RoHS检测(选配功能),应对新版中华人民共和国RoHS检测要求,欧盟及北美RoHS检测等要求标准,精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。
(二)产品特征
1.高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
2.计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。
3.Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析。
可以增加RoHS检测功能。
4.MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量

当化金厚度在2u〞-5u〞时,测量时间为40S
准确度规格 ±5%
精确度规格 5u〞时,测量时间为40S
准确度规格 ±5%
精确度规格

联系方式

联系人胡谢非(销售经理)
网站http://gzhongxichem17.100nets.com.cn
邮编511340
地址广州市增城区新塘镇广深大道西13号
电话14748114198
传真020-82455303
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